質量保證

提供包括封裝設計、封裝、測試、可靠性驗證等成套封測方案

首頁 - 質量保證 - 失效分析

失效分析

失效分析



1. 電性能測試:FT、O/S測試;
2. 外觀檢查:40X顯微鏡檢查;
3. SAM檢測:C-SCAN、 A-SCAN、T-SCAN、B-SCAN檢查;
4. X-ray檢測:檢查焊線質量, 芯片粘接質量等;
5. Decap分析:100-1000X顯微鏡檢查芯片表面質量等;
6. 彈坑試驗:檢查金球焊接質量;
7. 斷面檢測&SEM/EDX等分析:主要來檢查樣品的表面和成分等。




1. 電性能測試:FT、O/S測試;
2. 外觀檢查:40X顯微鏡檢查;
3. SAM檢測:C-SCAN、 A-SCAN、T-SCAN、B-SCAN檢查;
4. X-ray檢測:檢查焊線質量, 芯片粘接質量等;
5. Decap分析:100-1000X顯微鏡檢查芯片表面質量等;
6. 彈坑試驗:檢查金球焊接質量;
7. 斷面檢測&SEM/EDX等分析:主要來檢查樣品的表面和成分等。


永久免费看黄色网站,9久9久久久久久,国语对白东北熟女,国产精品热,直接看的黄色网址,老司机午夜精品视频在线观看,ass丰满熟女ass